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  • 測試探針PH-5Q1

    測試探針PH-5Q1

    產(chǎn)品名稱:PH-5Q1
    所屬分類:PH系列探針
    產(chǎn)品簡介:PH系列探針、PH-5Q1、直上四爪頭探針、一體針、彈簧針、測試針、頂針
    訂購熱線:400-183-6682
    產(chǎn)品介紹:針頭2.5mm,總長:38mm,針身直徑:3.2mm,開孔尺寸:3.2mm

  • 測試探針PH-4H 槽的

    測試探針PH-4H 槽的

    產(chǎn)品名稱:PH-4H 槽的
    產(chǎn)品簡介:PH系列探針、PH-4H 槽的、梅花頭探針一體針、彈簧針、測試針、頂針
    訂購熱線:400-183-6682
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):見下圖描述

  • 測試探針PH-4H 沖的

    測試探針PH-4H 沖的

    產(chǎn)品名稱:PH-4H 沖的
    產(chǎn)品簡介:PH系列探針、PH-4H 沖的、梅花頭一體針、彈簧針、測試針、頂針
    訂購熱線:400-183-6682
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):見下圖描述

  • 測試探針PH-4Q1

    測試探針PH-4Q1

    產(chǎn)品名稱:PH-4Q1
    產(chǎn)品簡介:PH系列探針、PH-4Q、直上四爪頭,一體針、彈簧針、測試針、頂針
    訂購熱線:400-183-6682
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):針頭:1.8mm,針桿直徑:2.27mm,總長:38.0mm,鉆孔尺寸:2.35mm

  • 測試探針PH-4H

    測試探針PH-4H

    產(chǎn)品名稱:PH-4H
    產(chǎn)品簡介:PH系列探針、PH-4H、梅花頭一體針、彈簧針、測試針、頂針
    訂購熱線:400-183-6682
    產(chǎn)品介紹: 針頭:2.5mm,總長:38mm,針身直徑:2.27mm,開孔尺寸:2.35mm

  • 測試探針PH-4G

    測試探針PH-4G

    產(chǎn)品名稱:PH-4G
    產(chǎn)品簡介:PH系列探針、PH-4G、平頭一體針、彈簧針、測試針、頂針
    訂購熱線:400-183-6682
    產(chǎn)品介紹:針頭:2.5mm,總長:38mm,針身直徑:2.27mm,開孔尺寸:2.35mm

  • 測試探針PH-4D

    測試探針PH-4D

    產(chǎn)品名稱:PH-4D
    產(chǎn)品簡介:PH系列探針、PH-4D、大圓頭探針一體針、彈簧針、測試針、頂針
    訂購熱線:400-183-6682
    產(chǎn)品介紹:針頭:2.5mm,總長:38mm,針身直徑:2.27mm,開孔尺寸:2.35mm

  • 測試探針PH-4A1

    測試探針PH-4A1

    產(chǎn)品名稱:PH-4A1
    產(chǎn)品簡介:PH系列探針、PH-4A1、直上凹頭探針一體針、彈簧針、測試針、頂針
    訂購熱線:400-183-6682
    產(chǎn)品介紹:針頭:1.8mm,總長:38mm,針身直徑:2.27mm,開孔尺寸:2.35mm

  • 測試探針PH-4B

    測試探針PH-4B

    產(chǎn)品名稱:PH-4B
    產(chǎn)品簡介:PH系列探針、PH-4B、尖頭探針一體針、彈簧針、測試針、頂針
    訂購熱線:400-183-6682
    產(chǎn)品介紹:針頭:1.8mm,總長:38mm,針身直徑:2.27mm,開孔尺寸:2.35mm

  • 測試探針PH-3H短行程

    測試探針PH-3H短行程

    產(chǎn)品名稱:PH- 3H短行程
    所屬分類:PH系列探針
    產(chǎn)品簡介:PH系列探針、PH-3H、梅花頭探針、一體針、彈簧針、測試針、頂針
    訂購熱線:400-183-6682
    產(chǎn)品介紹(產(chǎn)品概述):見下圖描述

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探針為什么使用一段時間后電阻值增大?

探針為什么使用一段時間后電阻值增大?

探針使用一段時間后電阻值增大,主要有以下幾方面原因:1. 氧化- 當探針與空氣或其他氧化劑接觸時,其表面可能會發(fā)生氧化反應。例如,金屬探針在空氣中長時間放置,會與氧氣反應生成金屬氧化物,這些氧化物的導電性通常比純金屬差,從而形成絕緣層或高電阻層,導致探針的電阻值增大。- 即使是一些抗氧化性能較好的材料制成的探針,在長期使用過程中,也會逐漸吸附一定量的氧氣或其他氧化性物質,進而改變其表面的化學組成和電阻率。2. 磨損- 在頻繁使用或與其他物體接觸、摩擦的過程中,探針的表面會逐漸磨損。磨損會破壞探針表面的完整性,使導電通路受損或變窄,增加電流通過時的阻力,導致電阻值上升。比如,用于測試電路板上焊點的探針,在多次接觸焊點后,其尖端可能會磨損,從而使接觸電阻增大。- 長期的磨損還可能導致探針表面的粗糙度增加,進一步影響

2025-03-11

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