探針主要用于以下測(cè)試：

半導(dǎo)體芯片測(cè)試

①設(shè)計(jì)驗(yàn)證：在芯片設(shè)計(jì)階段，通過(guò)使用探針與測(cè)試設(shè)備連接，對(duì)芯片的原型進(jìn)行測(cè)試，以驗(yàn)證芯片的設(shè)計(jì)是否符合預(yù)期的功能和性能要求。例如，檢查芯片的引腳功能、邏輯電路的正確性等。

②晶圓測(cè)試：在半導(dǎo)體制造過(guò)程中，對(duì)尚未封裝的晶圓進(jìn)行測(cè)試。探針用于與晶圓上的芯片引腳或錫球接觸，檢測(cè)芯片的電氣性能，如導(dǎo)通、電流、功能等，以篩選出有缺陷的芯片，提高產(chǎn)品良率。

③成品測(cè)試：對(duì)封裝完成的芯片進(jìn)行功能和電參數(shù)測(cè)試，確保每顆芯片都能達(dá)到設(shè)計(jì)規(guī)范要求。在成品測(cè)試中，被測(cè)芯片的引腳通過(guò)安裝在測(cè)試座上的探針與測(cè)試機(jī)的功能模塊連接，測(cè)試機(jī)對(duì)芯片施加輸入信號(hào)并采集輸出信號(hào)，判斷芯片是否合格。

電路板測(cè)試

①導(dǎo)通測(cè)試：探針可用于檢測(cè)電路板上不同點(diǎn)之間的導(dǎo)通情況，判斷是否存在斷路或短路問(wèn)題。通過(guò)將探針連接到電路板的相應(yīng)位置，施加一定的電壓或電流，測(cè)量?jī)牲c(diǎn)之間的電阻值，若電阻值在正常范圍內(nèi)，則表明導(dǎo)通良好；若電阻值異常，則可能存在線(xiàn)路故障。

②信號(hào)傳輸測(cè)試：對(duì)于已經(jīng)貼裝了器件的實(shí)物電路板，探針可連接器件之間的測(cè)試點(diǎn)，精確地檢測(cè)和測(cè)量信號(hào)的傳輸情況，包括信號(hào)的幅度、頻率、相位等參數(shù)，以評(píng)估電路板的性能和穩(wěn)定性。

ICT測(cè)試

在線(xiàn)測(cè)試：在PCB裝配過(guò)程中，對(duì)負(fù)載板上的元件進(jìn)行實(shí)時(shí)測(cè)試，確保元件正確安裝且功能正常。

PCB裸板測(cè)試：在印刷電路板（PCB）裝配元件之前，對(duì)其裸板進(jìn)行測(cè)試，檢查是否有短路、斷路等缺陷。

綜上所述，探針在半導(dǎo)體芯片測(cè)試和電路板測(cè)試中都發(fā)揮著重要作用，能夠準(zhǔn)確、高效地檢測(cè)各類(lèi)電氣性能和物理參數(shù)，幫助工程師們及時(shí)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題并進(jìn)行修復(fù)或改進(jìn)，從而提高電子產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。