界面探針是一種用于測試電子設備和半導體芯片等的非標準測試配件，以下是其詳細介紹：

1. 基本信息

別名：界面針、平頭導電針、平面接觸針等。

2. 產品特點

- 定制化程度高：通常是為少數(shù)做大型測試機臺的客戶定做的，用于測試機臺與測試夾具的接觸點和面，以滿足特定設備和應用的需求。

- 高精度：在測試過程中能夠準確地測量和傳輸信號，保證測試結果的準確性和可靠性。

- 低阻抗：可以有效減少信號傳輸過程中的能量損失，提高測試效率和精度。

3. 應用領域

- 半導體芯片檢測：對于半導體芯片，界面探針可用于測試芯片的電氣性能、引腳連接等，是半導體產業(yè)鏈中不可或缺的檢測工具之一。如在芯片封裝前后的測試過程中，通過界面探針對芯片的引腳進行精確接觸，檢測芯片的電學參數(shù)是否符合規(guī)格要求。

4. 常見型號及參數(shù)

- 界面針 GR-1 3.0：材質為黃銅鍍金，特性穩(wěn)定，耐用性好，主要用于測試架治具測試使用。

- 界面針 HR-410：同樣具有穩(wěn)定的性能和良好的耐用性，適用于大型測試機臺與測試夾具之間的精確連接以及各種電子設備的功能驗證和測試尺寸總長為：17.78mm，針身直徑:1.35mm，尾巴直徑：0.64mm，頭部直徑：1.83mm。

綜上所述，界面探針作為一種重要的測試工具，在電子設備和半導體芯片的測試領域發(fā)揮著關鍵作用，其定制化的特點使其能夠滿足不同客戶的特定需求，確保產品的性能和質量。